交流（AC）測(cè)試和直流（DC）測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)

請(qǐng)先與受測(cè)試產(chǎn)品所指定的安規(guī)單位確認(rèn)該產(chǎn)品應(yīng)該使用何種電壓，有些產(chǎn)品可以同時(shí)接受直流和交流兩種測(cè)試選擇，但是仍然有多種產(chǎn)品只允許接受直流或交流中的一種測(cè)試。如果安規(guī)規(guī)范允許同時(shí)接受直流或交流測(cè)試，制造產(chǎn)就可以自己決定何種測(cè)試對(duì)于產(chǎn)品較為適當(dāng)。為了達(dá)成此目的，使用者必須了解直流和交流測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。

交流耐壓（ACW）測(cè)試的特點(diǎn)

 大部分做耐壓測(cè)試的待測(cè)物都會(huì)含有一些離散電容量。用交流測(cè)試時(shí)可能無法充飽這些離散電容，會(huì)有一個(gè)持續(xù)電流流過這些離散電容。

交流耐壓（ACW）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

1.   一般而言，交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。主因是大部份的產(chǎn)品都使用交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境一致，合乎實(shí)際使用狀況。

2.   由于交流測(cè)試時(shí)無法充飽那些離散電容，但不會(huì)有瞬間沖擊電流發(fā)生，因此不需讓測(cè)試電壓緩慢上升，可以一開始測(cè)試就全電壓加上，除非這種產(chǎn)品對(duì)沖擊電壓很敏感。

3.   由于交流測(cè)試無法充滿那些離散電容，在測(cè)試后不必對(duì)測(cè)試物作放電的動(dòng)作，這是另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。

交流（AC）測(cè)試的缺點(diǎn)

1.   主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的離散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生的電流，會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電電流，因而無法得知實(shí)際的漏電電流。2.   另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于必須供應(yīng)待測(cè)物的離散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)比采用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。

直流（DC）測(cè)試的特點(diǎn)

在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的離散電容會(huì)被充滿，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，在離散電容被充滿后，會(huì)下降到零。

直流（DC）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

1.   一旦待測(cè)物上的離散電容被充滿，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。直流耐壓測(cè)試可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。

2.   另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由于需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供應(yīng)的電流非常小，所以儀器的電流容量遠(yuǎn)低于交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。

直流（DC）測(cè)試的缺點(diǎn)

1.    除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開始，緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。2.   由于直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電。所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才做做下一步工作。

3.   與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一性的測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這個(gè)缺點(diǎn)必須被考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。

4.   在交流耐壓測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電表顯示值的1.4倍。這一點(diǎn)是一般電表所不能顯示的，也是直流耐壓測(cè)試所無法達(dá)到的。所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。